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大功率模块IGBT浪涌电流测试分析

2025-02-24 16:42:26发布   信息编号:11803413  
公司: 西安长禾半导体技术有限公司
联系人: 白经理(销售人员)
所在地: 陕西 - 西安,西安市高新区锦业路69号创新商务公寓1号楼1031
价格: 188/套
联系: 微信:baixiaohui000

电话:029-81153217 手机:15891485109

西安长禾半导体技术有限公司功率器件测试实验室(简称长禾实验室)位于西安市高新技术经济开发区,是一家专业从事功率半导体器件测试服务的高新技术企业,是CNAS 认可实验室,属于大功率器件测试服务中心。

长禾实验室拥有尖端的系统设备、专业的技术团队和完善的服务体系。实验室现有先进的测试仪器设备100余台套,专业测试人员20余名。我们紧跟国际国内标准,以客户需求为导向,不断创新服务项目和检测技术,借助便利的服务网络,为合作伙伴提供优质高效的技术服务。

长禾实验室专注于功率半导体器件的动、静态参数检测、可靠性检测、失效分析、温循试验、热阻测试等领域的技术服务。业务范围主要涉及国内轨道交通、风力发电、科研单位、军工院所、工业控制、兵器船舶、航空航天、新能源汽车等行业。也是第三代半导体(宽禁带半导体)应用解决方案服务商。

长禾实验室秉承创新务实的经营理念,为客户提供优质的服务、完善的解决方案及全方位的技术支持;同时注重与行业企业、高校和科研院所的合作与交流,测试技术与服务水平不断提升。

诚信立世,感恩回馈,欢迎选择长禾实验室做您忠诚的合作伙伴,共谋发展大计!

2 二极管 1 反向漏电流 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4016.4 只测: 0~100mA
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4016 只测: 0~100mA
2 反向击穿电压 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4021.2 只测: 0~3.5kV
3 正向压降 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4011.4 只测: IS:0A~6000A
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4011 只测: IS:0A~6000A
4 浪涌电流 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 4066 只测: If:0A~9000A
5 反向恢复电荷 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1 只测: 1nC~100µC
反向恢复时间 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3473.1 只测: 10ns~2us
6 二极管反压变化率 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3476 只测: VR:5V~3300V, IF:1A~1500A
7 单脉冲雪崩能量 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 4064 只测: L:0.01mH~159.9mH, IAS:0.1A~1500A
稳态热阻 半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 3136 只测: Ph:0.1W~80W
8 总电容电荷 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8 只测: -3kV~3kV,0~1MHz
9 结电容 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 IEC 60747-2:2016 6.1.8 只测: -3kV~3kV,0~1MHz
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